透射光譜法根據光透過(guò)樣品后所呈現的光譜來(lái)表征樣品的某些特征，具有測量精度高、測量范圍廣、非破壞性、在線(xiàn)快速測量及一次性可同時(shí)測定樣品的多個(gè)參數等諸多優(yōu)點(diǎn)，廣泛應用在科研和工業(yè)領(lǐng)域。

根據待測樣品形態(tài)不同，可以分為固體透射測量和液體透射測量。

固體透射測量

固體透射測量系統

固體投射測量系統工作原理：光源輸出光通過(guò)光纖連接透反射支架上端，光透射待測樣品后被支架下端收集，并經(jīng)光纖傳輸至光譜儀。

KEWLAB同時(shí)為您提供固體透射測量系統需要的光譜儀以及附件：光源、光纖、透反射支架，您可以根據待測樣品進(jìn)行選擇，也可以直接聯(lián)系咨詢(xún)KEWLAB咨詢(xún)。

光源

鹵鎢燈光源 LED光源 氘-鹵鎢燈光源

根據待測樣品的波長(cháng)敏感范圍選擇合適的光源，鹵鎢燈光源可測光譜范圍360～2500nm；近紅外光源可測光譜范圍800～2500nm；氘-鹵鎢燈光源可測光譜范圍190～2500nm，同時(shí)KEWLAB還提供各種單色與白光LED光源供您選擇。

透反射樣品支架

ST-RT 該支架包括可調滑軌、底座、樣品臺以及兩個(gè)準直透鏡，其中上端準直透射將光纖出射光準直輸出到待測樣品上，下端準直透鏡將透射樣品后的光收集耦合入光纖。樣品臺上放置待測樣品。支架側邊有可調滑軌，根據實(shí)際樣品尺寸調節光程。

光譜儀

RGB-ER-CL光譜儀 采用交叉非對稱(chēng)C-T光路結構，配置先進(jìn)的CMOS探測器，是一款結構緊湊、攜帶方便的通用型微型光纖光譜儀，適用于科研及工業(yè)生產(chǎn)的光譜測量應用，具有高靈敏度、高分辨率、高量子效率和高動(dòng)態(tài)范圍的特點(diǎn)。

RGB-ER-CL的探測器響應范圍為200～1000nm，RGB-VIS-NIR-CL的波長(cháng)范圍為400～1100nm，用戶(hù)可以選擇不同的光柵配置，得到不同的光學(xué)分辨率和光譜響應范圍，以滿(mǎn)足不同的應用需求。另外針對其它波段200～900nm/200～1000nm/300～1100nm/700～1100nm，可以提供定制。

粗糙表面樣品透射測量

對于表面粗糙的樣品，透射測量時(shí)還需配置積分球，系統搭建如下圖所示。擰下透反射支架下端的準直透鏡，將積分球置于透射孔正下方，并調節樣品臺面至合適高度。

粗糙表面透射測量（示意）系統

積分球

積分球ISI-50 輻射型，一個(gè)采樣端口，一個(gè)測量端口。測量時(shí)，透射樣品的光進(jìn)入采樣端口，光纖測量端口將光傳輸至光譜儀。

液體透射測量

液體透射測量系統如下圖所示，與固體透射測量系統的區別就是用四向試管支架替換透反射樣品支架。試管支架的四面均連接一個(gè)準直透鏡，兩兩相對。

液體透射測量系統

四項試管支架

CH-4

CH-4四向試管支架 裝置是常用的光譜測量取樣附件，用于吸收/透射測量以及熒光測量。試管支架的四面均連接一個(gè)CL-UV準直透鏡。用于吸收/透射測量時(shí)，使用兩個(gè)相對的準直透鏡；用于熒光測量時(shí)，使用兩個(gè)互相垂直的準直透鏡；同時(shí)用于吸收/透射測量和熒光測量時(shí)，使用四個(gè)準直透鏡。

常用配置：

光譜儀

光源

樣品支架

積分球

固體透射測量系統測量實(shí)例

濾波片1的透過(guò)率

濾波片2的透過(guò)率

鍍膜玻璃透過(guò)率測試

衰減片1透過(guò)率

衰減片2透過(guò)率

紅外防護眼鏡透過(guò)率